将同轴照明与亮场照明进行比较,也会产生截然不同的结果。图2显示了使用亮场照明与同轴照明的镀铬玻璃凸形USAF 1951的对比度目标。
这两种照明最直接的差別在于两张图像的对比度全相反。此外,目标中的缺陷在亮场图像中更加明显,这可能会产生有利或不利的影响,具体取决于应用。有趣的是,目标的高反射性质使同轴照明图像产生比亮场照明图像高出约10%的对比度 - 下文将解释其原因。
在考虑使用同轴照明时,务必确切了解其适用和不适用的场合。由于照明路径上的光线的性质,同轴照明特别适合用于检测镜面或半镜面物体,如半导体晶片或CCD。使用两个不同的远心镜头(一个使用同轴照明,另一个不使用同轴照明)时,相同CCD的图像会呈现出亮场照明(使用环形灯)和同轴照明之间的差别。图3中显示了图像。
同轴照明是观察CCD边缘电线的更佳选择,因为电线与CCD其余部分之间的对比度更高、更均匀。如图4所示,图3(使用亮场照明)中的电线看起来更亮,使用同轴照明的图像看起来更暗,这是由照明的光线路径造成的。使用亮场照明时,光线会散射到镜头内;而使用同轴照明时,光线会散射到镜头外。
使用亮场照明时,从环形灯产生的光线会被物体反射到镜头中。反射会根据环形灯中个别光源的角度以及电线自身相对于CCD表面和焊接材料的角度而变化,正因为如此,不同电线长度上的反射的像素值不一致。使用同轴照明时,所有光线都会被物体反射,并散射到镜头外,因此碰触到电线的光都不会反射回镜头中和传感器上。同轴照明背景的对比度更均匀,而且电线的对比度更强,这使其成为观察电线的更好选择(相较于亮场照明)。
如果要观察CCD护罩玻璃上的亮点或裂边,同轴照明也是更具优势的选择,因为整个图像的对比度更加均匀。使用同轴照明显示的暗淡裂边(由图4所示的散射光造成)在杂乱的CCD背景下显示的对比度要比使用亮场照明形成的高对比度图像(如图3所示)高得多。
由于同轴照明具备诸多优势,因此通常被认为始终是空间有限的系统的选择。遗憾的是,对于具有光学漫射性或需要大视场的物体来说,它并不是最佳解決方案。在与漫射物体配合使用时,同轴照明会在图像上产生热点,该热点是由物体的朗伯(Lambertian,一个几乎不变的双向反射分布函数)趋势造成的,它对任何检测系统都是有害的。图5显示了使用(右图)和不使用(左图)同轴照明时木制材料漫射物体的图像。
图4: 使用亮场照明(左)和同轴照明(右)的光线路径的比较。
当朗伯型物体采用同轴照明时,图像在视场中心具有定义明确的热点。此热点可有效冲刷出所需的对比度,为亮场图像产生约70%的对比度,为同轴照明图像产生约8%的对比度,这两个对比度值均取自图像中心。
当然,在一些其他情况下,同轴照明并非理想之选。需要大视场时,照明系统的光学扩展量会成为问题,因为在大视场内展开光通量本身会导致密度低得多的光子束,因此会对整个系统的光通量产生负面影响。光源还会对具有大视场的同轴照明系统的性能产生显著的负面影响,因为经过物体平面的大投射,小瑕疵会被放大。
内置照明是观察 CCD 边缘电线的更佳选择,因为电线与 CCD 其余部分之间的对比度更高、更均匀。如图 2 所示,图 1(使用明视场照明)中的电线看起来更亮,使用内置照明的图像看起来更暗,这是由照明的光线路径造成的。使用明视场照明时,光线会散射到镜头内;而使用内置照明时,光线会散射到镜头外。
图5: 使用亮场照明(左)和同轴照明(右)的木制物体的比较。
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